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快恢復(fù)二極管好壞怎么檢測(cè)?二極管過熱失效是因?yàn)槭裁磳?dǎo)致的

   來源:   發(fā)表日期:2021年11月30日    瀏覽次數(shù):

  今天因?yàn)樽罱鼑?guó)產(chǎn)氮化硅企業(yè)也迎來了一波新的融資熱潮,半導(dǎo)體行業(yè)大動(dòng)作頻頻不斷,那我們就來聊聊半導(dǎo)體快恢復(fù)二極管,它過熱失效是因?yàn)槭裁磳?dǎo)致的。

  過熱失效是指快恢復(fù)二極管工作時(shí)造成的功率消耗增加,超過了器件所允許的最高結(jié)溫 Tjm,造成器件的熱擊穿。過熱破壞與裝置的工作溫度有關(guān),一般采用本征溫度 Tint來預(yù)測(cè)器件在溫度上升時(shí)的破壞機(jī)制。當(dāng)溫度升高時(shí),載流子濃度 ni (T)等于襯底摻雜濃度 ND的溫度,隨著溫度的升高,載體濃度呈指數(shù)級(jí)增加,Tint與摻雜濃度有關(guān),而普通的高壓設(shè)備 Tint要遠(yuǎn)低于低壓裝置。因?yàn)椴牧?、工藝等因素的影響,器?Tjm一般比 Tint小得多。

  因?yàn)閷?shí)際器件并不在熱平衡狀態(tài)下工作,因此也需要考慮器件工作方式與溫度的關(guān)系。例如,在逆變器中,通過電流傳導(dǎo)所產(chǎn)生的功率消耗,截止?fàn)顟B(tài)是由漏電電流引起的,而在逆向恢復(fù)過程中由高反向電壓所產(chǎn)生的功耗,都會(huì)使器件的工作溫度升高,并在溫度和電流之間引起正向反饋,最終發(fā)生熱擊穿。因此,熱擊穿發(fā)生的條件是,熱產(chǎn)生的功率密度大于由器件封裝系統(tǒng)確定的耗散功率密度,為防止設(shè)備的熱失效,一般將其工作溫度控制在 Tjm以下。

  如果器件開始局部熔化那就表明快恢復(fù)二極管發(fā)生過熱失效了,若局部溫度過高,發(fā)生在點(diǎn)狀區(qū)域內(nèi),還會(huì)引起管芯出現(xiàn)裂紋。當(dāng)快速恢復(fù)二極管工作頻率較高時(shí),在斷態(tài)與通態(tài)間高頻轉(zhuǎn)換將產(chǎn)生大量的功率消耗,器件的過熱失效形態(tài)可能有所不同,但隨著溫度的升高,最先開始喪失阻斷能力,幾乎所有平面端子將在邊緣被擊穿。所以,損傷點(diǎn)通常位于設(shè)備的邊緣,或者至少在其邊緣上。

  上述就是關(guān)于快恢復(fù)二極管過熱失效的原理,想要了解更多二三極管、Mos管等半導(dǎo)體產(chǎn)品選型、規(guī)格書資料。

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